光缆接头盒高低温循环试验中的密封问题
? ?根据标准要求,初始状态室温为20℃、压强为160kPa(60kPa+100?kPa),应用查理定律求得的高低温循环试验接头盒内压力变化曲线。
?? 可以看出,接头盒内较gao气压为183kPa,相对于大气压为83kPa,比常态60kPa增加了很多,因此对接头盒的气密性要求更高。
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光缆接头盒高低温循环试验中的密封问题
密封材料?
密封材料不佳是导致光缆接头盒密封性能失效的主要因素。密封材料失效导致接头盒内气体泄漏主要发生在高低温循环试验过程中。在高温时,接头盒内的气压较da,而且密封材料容易出现软化现象,因此接头盒的薄弱处很容易po裂。而在-40℃时尽管盒内气压不大,但密封材料容易脆化而失去弹性,当温度升高时,盒内气压回升,密封材料无法复原从而导致盒体po裂。
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光缆接头盒高低温循环试验中的密封问题
??? 循环试验的基本情况? 接头盒高低温循环试验条件? YD/T814.1-2004中规定的接头盒高低温循环试验条件。?
????在室温下,将试样置入温控箱,24芯光缆接头盒,以1℃/min的速率升温**温,在高温下恒温2h,24芯光缆接头盒供应商,接着降温至室温,24芯光缆接头盒哪家好,在室温下恒温2h,然后降至低温,在低温下恒温2?h,再升温至室温,24芯光缆接头盒公司,在室温下恒温2?h,如此构成一个循环,共做10个循环。图1是高低温循环试验温度变化曲线。
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