光缆接头盒高低温循环试验中的密封问题
??? 循环试验的基本情况? 接头盒高低温循环试验条件? YD/T814.1-2004中规定的接头盒高低温循环试验条件。?
????在室温下,将试样置入温控箱,以1℃/min的速率升温**温,光纤接头盒供应商,在高温下恒温2h,接着降温至室温,在室温下恒温2h,然后降至低温,在低温下恒温2?h,再升温至室温,在室温下恒温2?h,如此构成一个循环,光纤接头盒多少钱,共做10个循环。图1是高低温循环试验温度变化曲线。
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光缆接头盒技术要求
冲击:接头盒内充气40Kpa,湖北光纤接头盒,在-20℃时应能承受落高1米,锤重1Kg的冲击,冲击次数不少于8次,接头盒应无漏气、变形变龟裂现象。
密封性能:接头盒内充气100Kpa,测试温度从-30℃~+60℃,接头盒应不漏气、不变型、不龟裂。
光纤盘留:盘留光纤长度>2x0.8M,盘留带松套管光纤长度 4接头盒 >2×0.8M,光纤接头盒价格,盘留曲率半径>37.5mm。
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光缆接头盒高低温循环试验中的密封问题
要保证光缆接头盒的气体密封可靠性,采用的密封材料应满足如下要求。
? ????具有较好的热稳定性。热稳定性是指密封材料具有足够的耐热性能及耐寒性能,较基本的要求是能在规定的时间内耐温变(-40℃~65℃),不因温度变化而失效。热稳定性是衡量光缆接头盒密封胶带性能较重要的指标。
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